| Issue |
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 7, Number 5-6, October / December 1996
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | 377 - 385 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:1996136 | |
DOI: 10.1051/mmm:1996136
Quantitative Analysis of Scanning Force Microscopy Images of Nickel-Based Superalloys
Alain Hazotte1, Michel Troyon2 et Abderrahim Bourhettar21 Laboratoire de Science et Génie des Matériaux Métatliques, URA CNRS 159, École des Mines, Parc de Saurupt, 54042 Nancy Cedex, France
2 Laboratoire de Microscopies Électronique et Tunnel, Université de Reims Champagne-Ardenne, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France
Abstract
This paper presents very recent works on the use of
scanning force microscopy (SFM/AFM) to image and quantify the
microstructure of single-crystal nickel-based superalloys.
Images with satisfying contrast and resolution can be obtained
by working in either "topographic" mode (nanoprofilometry of
polished/etched surfaces) or "mechanical" mode (contrast due to
the difference of elastic stiffness between phases).
Nevertheless, measurement bias results from the non-negligeable
size of the probe tip. Some ways to minimize them are proposed
and discussed.
Résumé
Cet article présente des travaux récents visant à tester
le potentiel de la microscopie à force atomique pour
l'observation et l'analyse quantitative de la microstructure des
superalliages monocristallins à base de nickel. Des images de
résolution et contraste satisfaisants peuvent être obtenues en
mode "topographique" (nanorugosimétrie de surfaces
polies/attaquées) et en mode "mécanique" (contraste dû à une
différence de rigidité élastique entre phases). Néanmoins, des
effets associés à la taille non négligeable de la pointe
utilisée introduisent des biais de mesure qui doivent être pris
en compte. Différentes façons de les minimiser sont proposées et
commentées.
8170 - Materials testing.
6116P - Scanning probe microscopy determinations of structures.
6480G - Microstructure.
Key words
atomic force microscopy -- crystal microstructure -- metallography -- nickel alloys -- superalloys -- scanning force microscopy images -- SFM AFM -- nanoprofilometry -- elastic stiffness -- quantitative analysis -- microstructure -- Ni based superalloys -- topographic mode -- mechanical mode -- probe tip size -- metallography -- single crystal superalloys -- etched surfaces -- polished surfaces
© EDP Sciences 1996