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Issue
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 1, Number 4, August 1990
Page(s) 275 - 287
DOI https://doi.org/10.1051/mmm:0199000104027500
References of Microsc. Microanal. Microstruct. 1 275-287
  • Garcia E.A., Mét. Corr. Ind. 638(1978) 329; 639-640 (1978) 355; 641 (1979) 27.
  • Ferdjani S., David D. et Beranger G., à paraître dans J. Less Common Met.
  • Ferdjani S., David D., Farkas D. et Beranger G., à paraître dans Appl. Surf. Sci .
  • Leach J.S.L. et Sidgwick D.H., Actes du 8e Congrès International sur la Corrosion de Métaux, Mayence (1981).
  • Aladjem A., J. Mater. Sci.8 (1973) 688. [CrossRef]
  • Frade G., Beranger G. et Lacombe P., Symposium International 'Anodic oxides", (Electrochemical Society, New-York, 1969).
  • Arsov L., Froelicher M., Froment M. et Hugot-le-Goff A., J. Chim. Phys.3(1975) 275.
  • Blondeau G., Froehlicher M., Froment M. et Hugot-le-Goff A., J. Less Common Met . 56 (1977) 215. [CrossRef]
  • Barakat Y., Thèse, Univ. Compiègne (1987).
  • Ohtsuka T., Guo J. et Sato N, J. Electrochem. Soc. 133 (1986) 2473. [CrossRef]
  • Nemanich R.J., Tsai C. C. et Connell G.A.N., Phys. Rev. Lett . 44 (1980) 273. [CrossRef]
  • Hugot-le-Goff A., Thin Solid Films 142 (1986) 193. [CrossRef]
  • Best M. et Condrate R.A., J. Mater. sci. Lett. 4 (1985) 994. [CrossRef]
  • Hsu L.S., Solanski R., Collins G.J. et She C.Y., Appl. Phys. Lett. 45(1984) 1065. [CrossRef]
  • Gilles P.W., Carlson K.D., Frazen H.F. et Wahlbeck P.G., J. Chem. Phys 46(1967) 2461. [CrossRef]
  • Gilles P.W., The chemistry of extended defects in non-metallic solids, LeRoy Eyring et M. O'Keeffe Eds. (North-Holland, 1970) pp.75-88.
  • Magneli A., The chemistry of extended defects in non-metallic solids, LeRoy Eyring et M. O'Keeffe Eds. (North-Holland, 1970) pp. 148-163.
  • Eror N.G. et Smyth D.M., The chemistry of extended defects in non-metallic solids LeRoy Eyring et M. O'Keeffe Eds. (North-Holland, 1970) pp. 62-74.
  • Amsel G., Cherki C., Feuillade G. et Nadai J.P., J. Phys. Chem. Sol. 30 (1969) 2117. [CrossRef]
  • Boddy P.J., J. Electrochem. Soc. 115 (1968) 199. [CrossRef]