Microsc. Microanal. Microstruct. 2, 129-142 (1991)
DOI: 10.1051/mmm:0199100201012900

Application of multivariate statistical analysis to time dependent spectroscopy

Noël Bonnet¹, Emilia Simova² et Xavier Thomas<sup>1, 3

1</sup>  Unité INSERM 314, Université de Reims, 21 rue Clément Ader, 51100 Reims, France
²  Higher Institute Mechanical Engineering, Center of Applied Mathematics, SOFIA 116, Bulgarie
³  LASSI, Université de Reims, BP 347, 51062 Reims Cedex, France

Abstract
Time dependent spectroscopy is a promising method for the study of dynamic events by microanalysis. Since it produces a large amount of data, specialized data analysis procedures must be developed. Multivariate Statistical Analysis appears to be a good candidate since it allows data analysis without any a priori model of the evolution. It is also able to perform data processing (noise filtering for instance) and data extrapolation, such as the extrapolation to zero-dose. Some potential uses of this method are explored in several simulations as well as in an experimental example in the field of EDX spectroscopy.

Résumé
La spectroscopie résolue dans le temps est une méthode prometteuse pour l'étude des événements dynamiques par microanalyse. Dans la mesure où de grandes quantités de données sont produites, des procédures spécialisées d'analyse des données doivent être développées. L'Analyse Statistique Multivariée apparait comme un bon candidat car elle permet une analyse des données sans nécessité d'introduire un modèle d'évolution a priori. Elle est aussi capable d'effectuer un traitement des données (filtrage du bruit par exemple) et une extrapolation des données (extrapolation à dose nulle par exemple). Quelques potentialités de cette méthode sont discutées à partir de plusieurs simulations et à partir de données expérimentales dans le domaine de la spectroscopie de rayons X.

PACS
0705K - Data analysis: algorithms and implementation; data management.
0270 - Computational techniques.
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.

Key words
Time resolved spectroscopy -- Statistical simulation -- X-ray spectroscopy -- Data processing -- Multivariate analysis -- Digital simulation


© EDP Sciences 1991