Microsc. Microanal. Microstruct. 3, 55-59 (1992)
DOI: 10.1051/mmm:019920030105500

Cross section transmission electron microscopy observations of ultrathin films of cobalt in multilayers

Najeh Mliki^{1, 2}, Danièle Renard³, Monique Galtier³ et Geneviève Nihoul<sup>1

1</sup>  G.M.E.T., Groupe Matériaux, University of Toulon, BP 132,83957 La Garde Cedex, France
²  INRST, Bordj Cedria, BP 95, 2050 Hammam Lif, Tunisia
³  I.O, University of Orsay, 91405 Orsay Cedex, France

Abstract
We present results obtained by cross section transmission electron microscopy on ultrathin cobalt films, i.e. with a thickness going down to 0.5 nm, separated by gold layers. Observation of the profile views shows that our films are continuous, even for the smallest thickness, a fact which had not been proven until now.

Résumé
Nous présentons ici des résultats obtenus par microscopie électronique par transmission de profil sur des films ultraminces de cobalt (épaisseur descendant jusqu'à 0.5 nm) séparés par des couches d'or. L'observation de profil montre que nos couches sont continues même pour les épaisseurs les plus faibles, ce qui n'avait pu être prouvé jusqu'alors.

PACS
6865 - Low-dimensional, mesoscopic, and nanoscale systems: structure and nonelectronic properties.
6166B - Elemental solids.
6837L - Transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.).

Key words
TEM -- Ultrathin films -- Cobalt -- Transition elements -- Multilayers -- Crystal morphology -- Layer thickness -- Co


© EDP Sciences 1992