Microsc. Microanal. Microstruct. 3, 443-451 (1992)
DOI: 10.1051/mmm:0199200305044300

A formulation of ALCHEMI for materials containing light elements

Michael G. Walls

Centre d'Etudes de Chimie Métallurgique, CNRS, 15 rue G. Urbain, 94407 Vitry-sur-Seine Cedex, France

Abstract
A multivariate formulation of the method ALCHEMI is presented, which avoids the problems arising from delocalisation of x-ray producing events. The method solves for the distributions of the impurity elements on the host sites, and for the delocalisation factor associated with their x-ray signals provided the host element signals can be assumed to be localised. Alternatively, if at least one impurity element's and all but one host element's signals are well localised, the impurity distribution and the delocalisation factor for the remaining host element signal can be found. The formulation is successfully tested on a ternary alloy (Ni-Al-Ti) sample for which the distributions of all the elements present are known to high accuracy from anomalous x-ray diffraction measurements, and in which one host element (Al) has a delocalised signal.

Résumé
Une formulation multivariable de la méthode ALCHEMI est présenté dans ce travail. Celle-ci évite les problèmes dûs à la délocalisation des événements producteurs des rayons-x. La méthode détermine les distributions sur chaque site cristallin des éléments ajoutés et les facteurs de délocalisation associés à leurs signaux rayons-x, si l'on considère que les signaux des éléments de base sont localisés. Alternativement, si les signaux d'au moins un des éléments ajoutés, et de tous sauf m des éléments de base sont bien localisés, on peut trouver la distribution de l'impureté et le facteur de délocalisation pour l'autre élément de base. La formulation est testée avec succès sur un échantillon d'un alliage ternaire (Ni-Al-Ti) pour lequel les distribution de tous les éléments présents sont précisément connues par des mesures de diffusion anormale des rayons-x et dont un des éléments de base (Al) a un signal délocalisé.

PACS
6172S - Impurity concentration, distribution, and gradients.
8170J - Chemical composition analysis, chemical depth and dopant profiling.

Key words
Multivariate analysis -- Impurity distribution -- Crystallographic site -- X-ray spectra -- Anomalous diffusion -- X-ray scattering -- Quantitative chemical analysis -- Ternary alloys -- Nickel base alloys -- Aluminium alloys -- Titanium additions -- ALCHEMI method -- AlNiTi alloys


© EDP Sciences 1992