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Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 7, Number 2, April 1996
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Page(s) | 91 - 105 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:1996108 |
DOI: 10.1051/mmm:1996108
Some Practical Problems when Using the Direct Potential Method in HREM Image Simulation
Dong Tang et Dominique DorignacCNRS, CEMES-LOE, MEA, BP 4347, 31055 Toulouse, France
Abstract
The effects on the exit wave function computation using the
multislice method after calculating the slice projected potential by our
newly proposed "direct potential method" are systematically studied. In
particular, the most efficient use of all the relevant computing parameters is
discussed. A possible and simple explanation of many-beam Pendellösung
curves is also given.
Résumé
On étudie l'influence de l'emploi de la "méthode du potentiel
direct", méthode que nous avons récemment proposée pour déterminer le
potentiel projeté d'une mince couche de matière, sur le calcul de la fonction
d'onde électronique à la sortie d'un objet cristallin effectué à l'aide de la
procédure multicouche. On examine en particulier la façon la plus efficace
d'utiliser les paramètres de calcul les plus significatifs. On donne également
une explication simple et probable de l'allure des courbes Pendellösung
multi-faisceaux.
6116D - Electron microscopy determinations of structures.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
Key words
electron microscopy -- direct potential method -- HREM image simulation -- exit wave function computation -- multislice method -- slice projected potential -- many beam Pendellosung curves
© EDP Sciences 1996