Microsc. Microanal. Microstruct. 7, 91-105 (1996)
DOI: 10.1051/mmm:1996108

Some Practical Problems when Using the Direct Potential Method in HREM Image Simulation

Dong Tang et Dominique Dorignac

CNRS, CEMES-LOE, MEA, BP 4347, 31055 Toulouse, France

Abstract
The effects on the exit wave function computation using the multislice method after calculating the slice projected potential by our newly proposed "direct potential method" are systematically studied. In particular, the most efficient use of all the relevant computing parameters is discussed. A possible and simple explanation of many-beam Pendellösung curves is also given.

Résumé
On étudie l'influence de l'emploi de la "méthode du potentiel direct", méthode que nous avons récemment proposée pour déterminer le potentiel projeté d'une mince couche de matière, sur le calcul de la fonction d'onde électronique à la sortie d'un objet cristallin effectué à l'aide de la procédure multicouche. On examine en particulier la façon la plus efficace d'utiliser les paramètres de calcul les plus significatifs. On donne également une explication simple et probable de l'allure des courbes Pendellösung multi-faisceaux.

PACS
6116D - Electron microscopy determinations of structures.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.

Key words
electron microscopy -- direct potential method -- HREM image simulation -- exit wave function computation -- multislice method -- slice projected potential -- many beam Pendellosung curves


© EDP Sciences 1996