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Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 7, Number 4, August 1996
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Page(s) | 255 - 264 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:1996120 |
DOI: 10.1051/mmm:1996120
Microstructural Features of a-Axis Oriented
YBa
Cu
O
/PrBa
Cu
O
/YBa
Cu
O
Junctions Studied by Transmission Electron Microscopy
Abdelhadi Alimoussa1, 2, Marie-José Casanove1, Christian Roucau1 et Abdelmalek Thalal2 1 Centre d'Élaboration des Matériaux et d'Études Structurales, CNRS, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France
2 Laboratoire de Science des Matériaux, Faculté des Sciences Semlalia, BP 15/S, Marrakech, Morocco
Abstract
A-axis oriented YBa2Cu3O
/PrBa2Cu3O
/YBa2Cu3O
Josephson junctions grown by dc-magnetron sputtering on SrTiO3
(100) substrates have been studied by cross-sectional
transmission electron microscopy (TEM). The experiments showed
that nearly perfect a-axis heteroepitaxial growth was achieved,
c-axis oriented grains being found only in the beginning of the
films. High resolution TEM was used to study the microstructure
of the different interfaces and layers, special attention being
paid to secondary phases. Small Y2O3 inclusions in the
YBa2Cu3O
layers and elongated PrBaO3
precipitates in the
PrBa2Cu3O
layers were identified using high resolution TEM
and Fourier transform analysis.
Résumé
Des jonctions Josephson
YBa2Cu3O
/PrBa2Cu3O
/ YBa2Cu3O
de croissance axe a, déposées par pulvérisation cathodi que sur des
substrats SrTiO3 (100), ont été étudiées par microscopie
électronique en transmission (MET) effectuée sur des coupes
transverses. Les expériences ont montré que, en dehors de
quelques grains orientés axe c trouvés au tout début des films,
l'hétéroépitaxie des différentes couches avec l'axe a pour
direction de croissance a bien été obtenue. La microstructure des
interfaces et des couches successives a été étudiée en
microscopie électronique haute résolution, une attention
particulière étant accordée à la détermination des phases
secondaires. De petites inclusions de Y2O3 dans les couches
YBa2Cu3O
ainsi que des précipités de
PrBaO3 dans les couches
PrBa2Cu3O
ont été identifiés au travers de l'analyse d'images
de réseaux et de leurs diffractogrammes.
6865 - Low dimensional structures: growth, structure and nonelectronic properties.
7470V - Perovskite phase superconductors.
7470J - Superconducting layer structures and intercalation compounds.
7450 - Superconductor tunnelling phenomena, proximity effects, and Josephson effect.
6480G - Microstructure.
6170Q - Inclusions and voids.
6475 - Solubility, segregation, and mixing.
Key words
barium compounds -- crystal microstructure -- Fourier transforms -- high temperature superconductors -- inclusions -- Josephson effect -- praseodymium compounds -- precipitation -- sputtered coatings -- transmission electron microscopy -- yttrium compounds -- YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta PrBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 delta -- transmission electron microscopy -- Josephson junctions -- DC magnetron sputtering -- heteroepitaxial growth -- microstructure -- Y sub 2 O sub 3 inclusions -- PrBaO sub 3 precipitates -- Fourier transform analysis -- YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 PrBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7
© EDP Sciences 1996