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Issue
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 8, Number 1, February 1997
Page(s) 1 - 10
DOI https://doi.org/10.1051/mmm:1997101
Microsc. Microanal. Microstruct. 8, 1-10 (1997)
DOI: 10.1051/mmm:1997101

Application of Fourier algorithm to Near Field Optical Images: Local Resolution Estimation

Dominique Barchiesi

Laboratoire d'Optique P.M. Duffieux, URA CNRS 214, Université de Franche-Comté, 13 route de Gray, 25030 Besançon Cedex, France


Abstract
In Near Field Optics, the lateral resolution is better than the limit given by the Rayleigh criterion, but this fact was usually demonstrated by using test samples. In this study we apply local Fourier algorithms to near field optical experimental images, using a noise consideration to define resolution criterion. These algorithms are able to estimate the resolution automatically and thus can lead to simple image processing. We investigate the local resolution in scanning lines and we introduce the apparatus characterization. In the first part we discuss on the problem of resolution in near field optics.


Résumé
En optique de champ proche, la résolution latérale dépasse la limite donnée par le critère de Rayleigh, mais ce fait est généralement démontré en utilisant des objets tests. Dans cette étude, nous appliquons localement des algorithmes de Fourier à des parties d'images expérimentales, en utilisant le niveau de bruit comme critère de résolution. Ces algorithmes permettent de déterminer automatiquement la résolution et sont simples à mettre en oeuvre. Nous étudions la résolution locale dans une ligne de balayage et nous caractérisons le dispositif expérimental. Nous discutons la notion de résolution en champ proche.

PACS
4230H - Resolution of optical images.
0230 - Function theory, analysis.
4230K - Fourier transform optics.

Key words
Fourier analysis -- Fourier transform optics -- image resolution -- optical resolving power -- Fourier algorithm -- near field optical images -- local resolution estimation -- lateral resolution -- Rayleigh criterion -- noise consideration -- scanning lines -- near field optics


© EDP Sciences 1997