Free Access
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 7, Number 5-6, October / December 1996
Page(s) 533 - 539
Microsc. Microanal. Microstruct. 7, 533-539 (1996)
DOI: 10.1051/mmm:1996150

Roughness and $\bf {\rm I\kern-.17em R}^2\times {\rm I\kern-.17em R}$ Function Analysis: Applications in Material Science

Michel Coster, Gervais Gauthier, Séverine Mathis et Jean-Louis Chermant

LERMAT, URA CNRS 1317, ISMRA, 6 bd Maréchal Juin, 14050 Caen Cedex, France

In the case of absence of overlaps, roughness investigation can be studied from ${\rm I\kern-.17em R}^2\times {\rm I\kern-.17em R}$ function analysis methods. These ${\rm I\kern-.17em R}^2\times {\rm I\kern-.17em R}$ functions correspond to a true topography or a perspective representation. They can be quantitatively described directly from basic stereological parameters or after morphological transformations. Some examples in material science are given using scanning electron or confocal microscope images.

La rugosité des surfaces non planes sans parties cachées peut être étudiée à partir de l'analyse des fonctions de type ${\rm I\kern-.17em R}^2\times {\rm I\kern-.17em R}$. Ces fonctions correspondent soit à la vraie topographie soit à une vue en perspective. Elles peuvent être décrites quantitativement à partir des paramètres stéréologiques de base sur l'image elle même ou après transformations morphologiques. Quelques exemples sont donnés en sciences des matériaux en utilisant un MEB ou un microscope confocal.

8170 - Materials testing.
0630C - Spatial variables measurement.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
0760P - Optical microscopy.
6820 - Solid surface structure.
0555 - Fractals.
4230V - Image processing and restoration.
0650D - Data gathering, processing, and recording, data displays including digital techniques.

Key words
fractals -- fractography -- image representation -- materials science -- mathematical morphology -- metallography -- optical microscopy -- scanning electron microscopy -- surface topography -- surface topography measurement -- roughness -- R sup 2 *R function analysis -- material science -- topography -- perspective representation -- stereological parameters -- morphological transformations -- confocal microscope images -- scanning electron images -- brittle fracture -- ductile fracture

© EDP Sciences 1996