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Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 3, Number 1, February 1992
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Page(s) | 1 - 13 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:01992003010100 |
DOI: 10.1051/mmm:01992003010100
A HREM study of a nearly perfect Σ =11 tilt bicrystal in nickel
Danièle Bouchet1 et Jany Thibault21 Laboratoire de Physique des Solides, U.A C.N.R.S. 002, Bât. 510, UPS, F91405 Orsay Cedex, France
2 DRFMC/Service de Physique des Matériaux et Microstructure, CENG, 85X, F38041 Grenoble Cedex, France
Abstract
A nickel bicrystal containing a (311) [011] Σ = 11 grain boundary is investigated by high resolution electron microscopy. From Auger analysis and chemical etchings, the end of this bicrystal is known to contain more intergranular sulfur than the head. The structure of the GB extracted from the head and the end of the bicrystal is studied by HREM. The perfect symmetrical part Σ = 11 will be compared to the structure computed by energy minimization. The GB contains GB dislocations whose distribution is different at the head and in the end of the bicrystal. The presence of impurities related to the GB structure is investigated.
Résumé
Un bicristal de nickel contenant un joint de grains E = 11 (311) de flexion autour de [011] est étudié par microscopie électronique à haute résolution. D'après les résultats d'analyse Auger et d'attaques chimiques, la queue du bicristal contient beaucoup plus de soufre que la tête. La structure du joint de grains pris en tête et en queue a été examinée en MEHR. Les parties parfaites symétriques ont été comparées à la structure calculée par minimisation d'énergie. Le joint contient des dislocations dont la distribution est différente en tête et en queue de bicristal. La relation entre impuretés ségrégées et structure du joint est discutée.
6118 - Other methods of structure determination.
6166B - Elemental solids.
6172M - Grain and twin boundaries.
Key words
Electron microscopy -- High-resolution methods -- Bicrystals -- Nickel -- Transition elements -- Grain boundaries -- Defect structure -- Crystal orientation -- Intergranular defects -- Ni
© EDP Sciences 1992