| Issue |
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 4, Number 2-3, April / June 1993
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | 221 - 237 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:0199300402-3022100 | |
DOI: 10.1051/mmm:0199300402-3022100
Interaction between dislocations and Σ = 51 and Σ = 19 tilt grain boundaries in germanium: Study by in-situ, TEM and HREM
H.M. Michaud1, X. Baillin1, J. Pelissier1, J.L. Putaux2 et J. Thibault21 CEA/CEREM/Département d'Etudes des Matériaux, CENG, 85X-38041 Grenoble, France
2 Département de Recherche Fondamentale sur la Matière Condensée, SP2M/S, CENG, 85X-38041 Grenoble, France
Abstract
The deformation of two different tilt bicrystals Σ = 51 et Σ = 19 has been studied by 1 Mev in-situ electron microscope. The configurations resulting from the interaction between the dislocations induced by the deformation and the GBs have been characterised by TEM. HREM has been used to study a single impact detected previously during the in situ experiment. From these observations it has to be pointed out that i) the configurations resulting from the transmission or the emission of dislocations are different depending on the deformation conditions, ii) the incoming dislocations enter the GB where they decomposed into residual GB dislocations, the emission of dislocations from the GBs resulting from the accumulation of dislocations into the GB.
Résumé
Les bicristaux de flexion autour de [011] Σ = 51 et Σ = 19 ont été déformés in-situ au microscope 1 Mev. Les différentes configurations résultant de l'interaction des dislocations induites par la déformation et le joint de grains ont été caractérisées par MET On a aussi étudié par MEHR un événement observé in-situ correspondant à l'entrée d'une dislocation dans le joint. De ces observations il résulte que i) les configurations correspondant à des transmissions diffèrent fortement en fonction des conditions de déformations, ii) dans ces joints les transmissions observées ne correspondent pas à des transmissions directes de dislocations. Les dislocations sont incorporées au joint où elles se décomposent ; l'émission de dislocations s'effectuant après l'accumulation de plusieurs dislocations dans le joint.
6172F - Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.).
6172M - Grain and twin boundaries.
Key words
Dislocations -- Deformation test -- TEM -- High-resolution methods -- In situ -- Grain boundaries -- Bicrystals -- Elemental semiconductors -- Germanium -- Ge
© EDP Sciences 1993