Microsc. Microanal. Microstruct. 4, 111-117 (1993)
DOI: 10.1051/mmm:0199300402-3011100

In situ experiments in the new transmission electron microscopes

J. Pelissier et P. Debrenne

CEA-CEREM, Centre d'Etudes Nucléaires de Grenoble, BP 85X, 38041 Grenoble Cedex, France

Abstract
The sensibilization of microscope builders to the interest of very high resolution lead them to design transmission electron microscopes with specific specimen chambers, which do not fit complex specimen holders as usually used for in situ experiments. They need therefore some particular adaptations to set up in concertation with manufacturers. We present here some concepts of development of in situ experimentation adaptable to modern transmission electron microscope operating at intermediate voltage (200-400 kV). The difficulties and dangers to be avoided are illustrated on an example of design of a complex specimen holder: "a side-entry stage with straining, heating and double-tilt facilities". We compare the possibilities offered by two manufacturers, HITACHI and JEOL, for this particular realization.

Résumé
La sensibilisation des constructeurs de microscopes électroniques à transmission aux performances de très haute résolution les conduit à concevoir des espaces objet difficilement compatibles avec la possibilité de recevoir des porte-objets instrumentés plus ou moins complexes. Cela implique quelques adaptations particulières à mettre en oeuvre en concertation avec le constructeur. Nous présentons les concepts de développement de l'expérimentation in situ applicables aux microscopes à transmission modernes de tension moyenne. Les difficultés et les écueils à éviter sont illustrés au moyen d'un exemple de réalisation complexe de porte-objet: "un porte-objet de traction chauffant à double inclinaison". Nous comparons les possibilités offertes par les constructeurs JEOL et HITACHI pour cet exemple de réalisation.

PACS
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.
0660E - Sample preparation (including design of sample holders).

Key words
STEM -- In situ -- Sample holders -- Instrumentation -- Manufacturing


© EDP Sciences 1993