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Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 4, Number 2-3, April / June 1993
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Page(s) | 153 - 170 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/mmm:0199300402-3015300 |
DOI: 10.1051/mmm:0199300402-3015300
In situ deformation in T.E.M.: recent developments
A. Couret, J. Crestou, S. Farenc, G. Molenat, N. Clement, A. Coujou et D. CaillardCEMES-LOE/CNRS, 29 rue J. Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France
Abstract
In situ deformation tests in T.E.M. are currently performed in our laboratory on different types of material to study their mechanical properties. Recent developments of this technique are presented in this paper. Many examples from our recent works are demonstrated to support this presentation. The procedure of the specimen preparation and the special straining holders are described in details. The validity of the results to explain the behaviour of the bulk materials is discussed with special attention to the stress control and the possible artefacts. The qualitative and quantitative potentialities of this technique are reviewed.
Résumé
Au laboratoire, nous étudions les propriétés mécaniques des matériaux par des expériences de déformation in situ réalisées à l'intérieur d'un microscope électronique en transmission. Dans cet article, nous présentons les développements de cette technique mis au point au laboratoire au cours de ces dernières années. De nombreux exemples issus de nos travaux sont cités en illustration. Nous décrivons le procédé de préparation des échantillons et nos porte-objet de déformation. La validité de ces expériences pour expliquer le comportement du matériau massif est ensuite discutée. Une attention plus particulière est portée sur la façon de contrôler la contrainte et sur les éventuels artefacts liés à cette technique. Enfin, nous faisons une revue des potentialités d'analyses qualitatives et quantitatives que possède cette technique.
0660E - Sample preparation (including design of sample holders).
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.
6220F - Deformation and plasticity (including yield, ductility, and superplasticity).
566172F - Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.).
Key words
TEM -- In situ -- Sample preparation -- Mechanical properties -- Deformation test -- Stress measurement -- Trace analysis -- Dislocation motion -- Measuring methods -- Temperature effects -- Qualitative chemical analysis -- Quantitative chemical analysis
© EDP Sciences 1993