Microsc. Microanal. Microstruct. 5, 11-18 (1994)
DOI: 10.1051/mmm:019940050101100

Near field microscopy of glass surface and interfaces

François Creuzet

Laboratoire CNRS/Saint-Gobain "Surface du Verre et Interfaces", 39 Quai Lucien Lefranc, 93303 Aubervilliers, France

Abstract
In this paper, we will give a brief survey of the activity of our laboratory in the field of near field microscopy. Firstly, typical results obtained with Atomic Force Microscopy (AFM) on glass surface and interfaces will be described. Characterization of roughness, investigation of local acid-base properties, fracture of brittle materials, adhesion of polymers and growth mechanism of metallic layers are as many examples which illustrate the potential of AFM for the study of insulating materials. Secondly, we will present the main specifications that we have obtained during the development of new instruments: an Atomic Force Microscope working in ultra high vacuum (UHV) and a near field optical microscope with a spectroscopic capability in the infrared range.

Résumé
Dans cet article, nous donnons une brève revue des activités de notre laboratoire dans le domaine des microscopies en champ proche. Tout d'abord, nous décrirons quelques résultats typiques obtenus avec un microscope à forces atomiques (AFM) sur la surface du verre et ses interfaces. La caractérisation de la rugosité, l'investigation des propriétés acido- basiques locales, la fracture des matériaux fragiles, l'adhésion de polymères et la croissance de couches métalliques sont autant d'exemples qui illustrent le potentiel de l'AFM pour l'étude des matériaux isolants. Ensuite, nous présenterons les principales spécifications que nous avons obtenues durant la phase de développement de deux nouveaux instruments: un microscope à forces atomiques fonctionnant sous ultra-vide et un microscope optique en champ proche pouvant donner accès à une spectroscopie locale dans le domaine infrarouge.

PACS
6837P - Atomic force microscopy (AFM).
0779L - Atomic force microscopes.
0779F - Near-field scanning optical microscopes.

Key words
Progress report -- Atomic force microscopy -- Atomic force microscope -- Interfaces -- Surfaces -- Ultrahigh vacuum -- Glass -- Optical microscopes -- Optical microscopy -- Scanning near field optical microscopy -- Metrology -- Physics


© EDP Sciences 1994