Microsc. Microanal. Microstruct. 5, 501-508 (1994)
DOI: 10.1051/mmm:0199400504-6050100

Point source physics: Application to electron projection microscopy and holography

Roger Morin

CRMC2-CNRS, Campus de Luminy, Case 913, 13288 Marseille Cedex 9, France

Abstract
Ultra-sharp field emitters are able to produce low energy electron beams. This paper presents recent experiments demonstrating the strong coupling between the atomic properties of the source and the properties of the associated electron beam. These experiments include atomic scale work on the source as well as a characterization of tle emitted electron wave through projection holography and interferometry experiments.

Résumé
Des émetteurs de champs ultra-fins peuvent produire des faisceaux d'électrons de basse énergie. Cette note présente les résultats expérimentaux récents qui démontrent le fort couplage entre les propriétés atomiques de la source et celles du faisceau d'électrons qui en est émis. Ces expériences comprennent un travail à l'échelle atomique sur la source ainsi qu'une caractérisation des ondes électroniques émises au travers d'expériences d'holographie et d'interférométrie.

PACS
2925B - Electron sources.
0778 - Electron, positron, and ion microscopes; electron diffractometers.
7970 - Field emission, ionization, evaporation, and desorption.
4185 - Beam optics.

Key words
Holography -- Electron microscopy -- Projection -- Interferometry -- Electron wave -- Electron sources -- Experimental study -- Microscope tip -- Metrology -- Physics


© EDP Sciences 1994