Free Access
Issue
Microsc. Microanal. Microstruct.
Volume 5, Number 1, February 1994
Page(s) 19 - 29
DOI https://doi.org/10.1051/mmm:019940050101900
References of Microsc. Microanal. Microstruct. 5 19-29
  • Pohl D.W., Denk W., Lanz M., Appl. Phys. Lett. 44 (1984) 651-653. [CrossRef]
  • Porte L., Courjon D., Spectra 2000 164 (1992) 40-48.
  • Courjon D., Bainier C., Spajer M., J. Vac. Sci. Technol. B10 (1992) 2436-2439.
  • Van Hulst N.F., Moers M.P.H., Noordman O.F.J., Faulkner T., Segerink F.B., Van Der Werf K., De Grooth B., Bôgler B., SPIE Proceedings, Scanning probe microsc. 1639 (1992) 36-43.
  • Toledo-Crow R., Yang P.C., Chen Y., Vaez-Iravani M., Appl. Phys. Lett. 60 (1992) 2957-2959. [CrossRef]
  • Baida F., Courjon D., Tribillon G., NFO Proc. ser. E 242 (1992) 71-78.
  • Vigoureux J.M., J.O.S.A. A8 (1991) 1697-1701.
  • Nazar F.M., Short notes J.P.N. J. Appl. Phys. 18 (1979) 1181-1182. [CrossRef]
  • Johnson P.B., Christy R.W., Phys. Rev. B6 (1972) 4370-4379.
  • Moers M.P.H., Tack R.G., Noordman O.F.J., Segerink F.B., Van Hulst N.F., Bôlger B., NFO Proc. ser. E 242 (1992) 79-86.